局部放電檢測儀常見的十五種波形圖譜(二)
上一期講了局部放電檢測儀常見的十五種波形圖譜的前五種,這一期我們來將第六到第十種常見的波形。
⑥接觸不良的干擾圖形。
波形特點:對稱地分布在實驗電壓零點兩側,幅值大致不變,但在實驗電壓峰值附近下降為零。波形粗糙不清晰,低電壓下即出現。電壓升高時,幅值緩慢增加,有時在電壓達到一定值后會完全消失。
原因:實驗回路中金屬與金屬不良接觸的連接點;塑料電纜屏蔽層半導體粒子的不良接觸;電容器鋁箔的插接片等(可將電容器充電然后短路來消除)。
⑦可控硅元件的干擾圖形。
波形特點:位置固定,每只元件產生一個獨立訊號。電路接通,電磁耦合效應增強時訊號幅值增加,試驗調壓時,該脈沖訊號會發生高頻波形展寬,從而占位增加。
原因:鄰近有可控硅元件在運行。
⑧繼電器、接觸器、輝光管等動作的干擾。
波形特點:分布不規則或間斷出現,同試驗電壓無關。
原因:熱繼電器、接觸器和各種火花試驗器及有火花放電的記錄器動作時產生。
⑨熒光燈的干擾圖形。
波形特點:欄柵狀,幅值大致相同的脈沖,伴有正負半波對稱出現的兩簇脈沖組。
原因:熒光燈照明
⑩無線電干擾的干擾圖形。
波形特點:幅值有調制的高頻正弦波,同試驗電壓無關。
原因:無線電話、廣播話筒、載波通訊等。
下一期我們來講局部放電檢測儀常見的十五種波形圖譜的最后五種。
⑥接觸不良的干擾圖形。
(圖8-20)(接觸不良)
波形特點:對稱地分布在實驗電壓零點兩側,幅值大致不變,但在實驗電壓峰值附近下降為零。波形粗糙不清晰,低電壓下即出現。電壓升高時,幅值緩慢增加,有時在電壓達到一定值后會完全消失。
原因:實驗回路中金屬與金屬不良接觸的連接點;塑料電纜屏蔽層半導體粒子的不良接觸;電容器鋁箔的插接片等(可將電容器充電然后短路來消除)。
⑦可控硅元件的干擾圖形。
(圖8-21)(可控硅元件)
原因:鄰近有可控硅元件在運行。
⑧繼電器、接觸器、輝光管等動作的干擾。
(圖8-22)(繼電器、接觸器、輝光管干擾)
波形特點:分布不規則或間斷出現,同試驗電壓無關。
原因:熱繼電器、接觸器和各種火花試驗器及有火花放電的記錄器動作時產生。
⑨熒光燈的干擾圖形。
(圖8-23)熒光燈的干擾
波形特點:欄柵狀,幅值大致相同的脈沖,伴有正負半波對稱出現的兩簇脈沖組。
原因:熒光燈照明
⑩無線電干擾的干擾圖形。
(圖8-24)無線電干擾
波形特點:幅值有調制的高頻正弦波,同試驗電壓無關。
原因:無線電話、廣播話筒、載波通訊等。
下一期我們來講局部放電檢測儀常見的十五種波形圖譜的最后五種。
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